Metalurgia Ikerketa Zentroa

Entsegu Kimikoak

Corrosion corrosion corrosion

IK4-AZTERLANeko arlo kimikoa lehen mailako tekniken jabe da. Bertan aurkitu daiteken ekipazio eta teknikei esker emaitza fidagarriak denbora laburrean lor daitezke.

Eskaintza analitikoa oso zabala da. Horrez gain, teknikarien ezagutza sakona da, material jakinen behar partikularrei erantzun banakakoak eskaintzeko.

Ondorengoak dira eskainitako entseguak, metodologiaren edo material moten arabera:

1. Material desberdinen osagaien determinazioa, hauek era nagusian, gutxienean edo aztarna gisa agerturik.

  • Aleazio metalikoak (fundizioa, altzairua, aluminioa, kobrea, nikela, eztainua, beruna, titanioa, eta abar).
  • Metal puruak (wolframioa, titanioa, telurioa, selenioa, bismutoa, beruna, eta abar).
  • Material errefraktarioak.
  • Ferroaleazio eta inokulatzaileak.
  • Hondakin desberdinen analisiak, hauen jatorria erraustegiak, lurzoruen edota balio handiagoko materialen berreskuratze-prozesuak izanik.

2. Inmisioen karakterizazioa.

  • Ingurugiro-airean dagoen material partikulatuaren analisia (partikulen tamaina eta karakterizazio kimikoa).
  • Tximinietan egindako harpenetatik datozen iragazkien analisia.

3. Industri isurketen, uren eta lixibiatuen analisi fisiko-kimikoa.

4. Fusio prozesuetako hare, eskoria eta hondakinen karakterizazioa.

5. Karbonodun materialen karakterizazio kimikoa (harrikatzak, antrazitak, grafitoak, birkarburatzaileak…).

6. X izpien Difrakzio bidezko osagaien karakterizazioa.

7. Material metalikoen dilatazio termikoen koefiziente eta faseen eraldaketa tenperatura kritikoen determinazioa.

8. Piezen garbiketa mailaren karakterizazioa.

9. Determinazio kalorimetrikoak.

10. “In situ” analisi kimikoak (PMI, materialen sailkapena, bereizketa, ziurtapena…) ekipamendu eramangarrien bidez.

Ekipamendu nagusienen artean, hauek dauzkagu:

  • Txinparta eta X izpien Fluoreszentzia ekipamendu eramangarriak.
  • Txinparta bidezko Emisio Espektroskopia (basea Fe, Al, Ni, Cu, Co).
  • Plasma bidezko Emisio Espektroskopia (ICP-OES eta ICP-MS).
  • X izpi bidezko fluoreszentzia.
  • X izpien difrakzioa.
  • C, S, N, O, H analizatzaile automatikoak.
  • Fotometroak, pH-metroak, eroaletasun neurgailuak, eta abar..
  • Dilatometroa.
  • Laginen prestaketa fisikorako unitatea.
  • Berogailu, labe, balantza, termobalantza eta laborategiko ekipamendu orokorra.
  • Goi bolumeneko inpaktatzaileak (HCI).
  • Jarraikako partikula neurgailua (GRIM).
Harremanetarako

Jose María Murua
Teknologia Zerbitzuen Zuzendaria

José Antonio Goñi
Egitura Karacterizazioen Saileko Koordinatzailea

Carmelo Santamarina
Entsegu Ez Suntsitzaileen Saileko Koordinatzailea

David López
Entsegu Kimikoen Saileko Koordinatzailea

David Sebastian
Korrosio eta Babes Saileko Koordinatzailea

Urko Uribe
Entsegu Fisikoen Saileko Koordinatzailea

David Álvarez
Tratamendu Kriogenikoen Saileko Koordinatzailea