Centro de Investigación Metalúrgica

  • 15 de junio de 2018

70 profesionales de la industria metal-mecánica toman parte en Workshop de Análisis de Inclusiones en Aceros impartido por IK4-AZTERLAN y por LEICA MICROSYSTEMS

El carácter práctico del seminario celebrado en las instalaciones del Centro de Investigación Metalúrgica IK4-Azterlan, junto con el nivel técnico de las presentaciones, han sido valorados muy positivamente por los asistentes.

Cerca de 70 técnicos de 33 empresas, centros tecnológicos y universidades tomaron parte en este destacado marco de trabajo técnico, que ha contado con la colaboración de la empresa LEICA MICROSYSTEMS y de IK4-AZTERLAN.

La jornada de trabajo se inició con una introducción a las inclusiones no metálicas por parte de la técnica del área de metalurgia de IK4-AZTERLAN, Nagore Gutiérrez, que hizo una introducción de las condiciones más habituales en la formación de las inclusiones, contextualizando su aparición en el proceso de fabricación del acero.

Tras una clasificación de las inclusiones en base a su origen, morfología y tamaño, Nagore profundizó con detalle en la influencia de las mismas en las propiedades del acero, centrando la segunda parte de su presentación en las inclusiones no metálicas endógenas más conocidas: Sulfuros, Silicatos, Alúminas y Óxidos.

A continuación, el equipo de LEICA MICROSYSTEMS compuesto por los técnicos Dionís Diez y Alberto Torcal, abordó la determinación micrográfica de inclusiones no-metálicas en aceros, partiendo de métodos tradicionales con imágenes tipo, métodos estadísticos y de análisis de imagen, para terminar con técnicas avanzadas que incluyen el análisis químico (EDS, LIBS), revisando los principios de cada una de las técnicas y mostrando ejemplos prácticos de aplicación.

La jornada continuó con el análisis de la revisión 2017 de la norma EN 10247. Partiendo de las particularidades de la norma europea, los ponentes realizaron una valoración de pros y contras de la misma, comparándolos con los cambios introducidos en la nueva revisión. Se dedicó parte de la presentación a analizar en detalle las claves en la interpretación de resultados, que surge con esta nueva revisión.

Finalmente, la jornada contó con un espacio eminentemente práctico, centrado en el uso de los equipos de microscopía desplegados en las instalaciones del Centro Tecnológico IK4-Azterlan.

Inclusiones no metálicas

Los ponentes de la jornada técnica, Nagore Gutiérrez, técnica de IK4-Azterlan, y Dionís Díez y Alberto Torcal de Leica Microsystems.